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當前位置:首頁產品中心三維X射線顯微鏡(XRM)D8多晶X射線衍射儀檢測

多晶X射線衍射儀檢測
產品簡介

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀,采用創造性的達芬奇設計,通過TWIN-TWIN光路設計,成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光。通過TWIST TUBE技術,使用戶可以進行多晶X射線衍射儀檢測。

產品型號:
更新時間:2024-09-12
廠商性質:代理商
訪問量:2210
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多晶X射線衍射儀檢測

 

項目

細則

收費

說明

單掃一張圖譜

看d值,相對強度,不包括物相分析;每樣每次長15min,延長時間按100元15min計,不足15min按15min計

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1.長時間數據手機(大于5h)、復雜樣品等特殊測試,價格需面議

晶胞參數測定

已知的純物相,掃描時間≤30min;掃描時間超過30min,延長時間按200元/30min計,不足30min按30min計

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晶粒尺寸測定

已知的純物相,掃描時間≤30min;掃描時間超過30min,延長時間按200元/30min計,不足30min按30min計

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高分子結晶度測試

已知的確定物相,掃描時間≤1h;掃描時間超過1h,延長時間按200元/30min計,不足30min按30min計

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階梯掃描法

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物相半定量

僅限于兩種已知物相,掃描時間≤1h;掃描時間大于1h,延長時間按200元/30min計,不足30min按30min計;多出物相,另加100元/相

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多晶X射線衍射儀檢測

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀,采用創造性的達芬奇設計,通過TWIN-TWIN光路設計,成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光。通過TWIST TUBE技術,使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用(常規粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到點光源應用(織構、應力、微區)的切換,讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史!
高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個衍射峰(注意不是一個衍射峰)的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度,布魯克AXS公司向大家提供保證!
*的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍,不僅答復提高設備的使用效率, 而且大幅提高了設備的探測靈敏度。

倫琴實驗室:400-100-9267 歡迎咨詢

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